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小型植物表型成像分析(xi)系(xi)統操作簡單,可用于實驗室(shi)快(kuai)速獲得觀(guan)測(ce)目標在500-1000nm內的高光(guang)(guang)譜(pu)圖像數據,是分辨率很高的高光(guang)(guang)譜(pu)系(xi)統。